Crest Optics DeepSIM

Crest Optics har utvecklat DeepSIM, den första superupplösningsmodulen som är kompatibel med alla upprätta eller inverterade mikroskop som har en kameraport. Den är lika enkel att använda som ett konfokalmikroskop och gör det möjligt att få dubbelt så hög upplösning med ditt befintliga mikroskop och dina vanliga markörer och infärgnings protokoll. Med denna teknik så kan du enkelt växla mellan teknikerna och slipper preparera speciella prover för superresolution.

Crest Optics DeepSIM

Crest Optics har utvecklat DeepSIM, den första superupplösningsmodulen som är kompatibel med alla upprätta eller inverterade mikroskop som har en kameraport. Den är lika enkel att använda som ett konfokalmikroskop och gör det möjligt att få dubbelt så hög upplösning med ditt befintliga mikroskop och dina vanliga markörer och infärgnings protokoll. Med denna teknik så kan du enkelt växla mellan teknikerna och slipper preparera speciella prover för superresolution.

Hög upplösning för dynamiska processer

DeepSIM tekniken baseras på strukturerad belysning och ger en XY-upplösning på ~ 100 nm och Z upplösning upp till ~ 300 nm. DeepSIM är pålitlig, enkel att använda och en prisvärd lösning för att till exempel studera cellulära strukturer i hög förstoring och upplösning. Den passar också för att studera dynamik i levande celler. En frame rate på 10 fps (1024×1024 px FOV) gör att man kan studera förändringar på cellulära och subcellulära nivåer.

Superresolution kan också fås med lägre förstoringar (20X-40X) vilket utökar applikationsområdet till att omfatta komplexa 3D-modeller som vävnader, organoider, sfäroider och små organismer.

Flexibilitet för användaren

DeepSIM kan kombineras med spinning disk konfokalen X-Light V3, den enda spinning disk konfokalen som har ett synfält på 25 mm. Med den snabba konfokalen kan man snabbt screena ett område och med ett klick i mjukvaran sedan få en superupplöst bild av ett område av intresse.

DeepSIM och X-Light V3 är utmärkta tillägg för Nikon’s inverterade mikroskop Ti2-E, och kan enkelt kontrolleras i mjukvaran NIS-Elements. Tillsammans så blir det ett flexibelt system med hög prestanda, med en snabb konfokal, ett widefield system och dessutom ett superresolutions system.

 

Kontakta produktspecialist:

Catherine Kitts
catherine.kitts@bergmanlabora.se
Tel: 031-788 18 94

Marie Andersson
marie.andersson@bergmanlabora.se
Tel: 08-625 18 07

Teknisk specifikation

FOV: 1024x1024pixel (66×66µm 100X | 333×333µm 20X)
Laser: Spektralt område: excitation: 400-750 nm; emission: 400-850 nm
Kamera: CMOS kameror med 6.5 µm pixel, ex Photometrics Kinetix
Bildtagningshastighet: 13fps (1024x1024px)
Objektiv: 20X-100X
Upplösning: Lateral Resolution (FWHM): ~100 nm (100X NA 1.45) Axial Resolution (FWHM): ~300 nm (100X NA 1.45)
Mjukvara: NIS-Elements 

Länkar

DeepSIM på Crest Optics hemsida

Hög upplösning för dynamiska processer

DeepSIM tekniken baseras på strukturerad belysning och ger en XY-upplösning på ~ 100 nm och Z upplösning upp till ~ 300 nm. DeepSIM är pålitlig, enkel att använda och en prisvärd lösning för att till exempel studera cellulära strukturer i hög förstoring och upplösning. Den passar också för att studera dynamik i levande celler. En frame rate på 10 fps (1024×1024 px FOV) gör att man kan studera förändringar på cellulära och subcellulära nivåer.

Superresolution kan också fås med lägre förstoringar (20X-40X) vilket utökar applikationsområdet till att omfatta komplexa 3D-modeller som vävnader, organoider, sfäroider och små organismer.

Flexibilitet för användaren

DeepSIM kan kombineras med spinning disk konfokalen X-Light V3, den enda spinning disk konfokalen som har ett synfält på 25 mm. Med den snabba konfokalen kan man snabbt screena ett område och med ett klick i mjukvaran sedan få en superupplöst bild av ett område av intresse.

DeepSIM och X-Light V3 är utmärkta tillägg för Nikon’s inverterade mikroskop Ti2-E, och kan enkelt kontrolleras i mjukvaran NIS-Elements. Tillsammans så blir det ett flexibelt system med hög prestanda, med en snabb konfokal, ett widefield system och dessutom ett superresolutions system.

 

Kontakta produktspecialist:

Catherine Kitts
catherine.kitts@bergmanlabora.se
Tel: 031-788 18 94

Marie Andersson
marie.andersson@bergmanlabora.se
Tel: 08-625 18 07

Teknisk specifikation

FOV: 1024x1024pixel (66×66µm 100X | 333×333µm 20X)
Laser: Spektralt område: excitation: 400-750 nm; emission: 400-850 nm
Kamera: CMOS kameror med 6.5 µm pixel, ex Photometrics Kinetix
Bildtagningshastighet: 13fps (1024x1024px)
Objektiv: 20X-100X
Upplösning: Lateral Resolution (FWHM): ~100 nm (100X NA 1.45) Axial Resolution (FWHM): ~300 nm (100X NA 1.45)
Mjukvara: NIS-Elements 

Länkar

DeepSIM på Crest Optics hemsida

Behöver du hjälp att välja rätt produkt?

Våra produktspecialister kan hjälpa dig att välja rätt instrument för din verksamhet.

Andra köpte även

Relaterade produkter