Nikon XT V 160

Nikons XT V system består av världsledande röntgen och CT inspektion för elektronik (PCB, BGA och chip design) och andra komponenter för ett brett spektrum av användningsområden.

Nikon XT V 160

Nikons XT V system består av världsledande röntgen och CT inspektion för elektronik (PCB, BGA och chip design) och andra komponenter för ett brett spektrum av användningsområden.

Världsledande röntgen och CT-inspektion

XT V 160 är specifikt utformad för användning i produktionslinjer och laboratorier för felanalys. Med en precisions-joystick styr systemanvändaren den 5-axlade provmanipulatorn. Röntgen i realtid låter användare intuitivt navigera över komplexa kretskort och elektroniska komponenter och snabbt spåra defekter. I automatiserat inspektionsläge kan prover inspekteras med den högsta kapaciteten.

  • Marknadsledande mikrofokusteknik
  • Snabb automatiserad komponentkontroll genom anpassningsbara makron
  • Intuitiv kontroll med joystick visar röntgenbilder i realtid
  • Låga drifts- och underhållskostnader.
  • CT och X.Tract (laminografi) redo

 

 

Kontakta produktspecialist:

Johan Sternemalm
johan.sternemalm@bergmanlabora.se
Tel: 031-10 54 40

Teknisk specifikation

Typ: Öppen tub med mikrofokus
Val av mål: Reflektionmål
Max energi: 130 kV
Minsta upplösning: 1 um
Max vikt av prov: 5 kg
Geometrisk förstoring: 2,5-2400x
System förstoring: upp till 36 000x
CT /X.tract: Tillval
Primära applikationer: realtids elektronikinspektion, halvledarinspektion och felanalys
Längt kabinett: 1786 mm
Bredd kabinett: 1200 mm
Höjd kabinett: 1916 mm
Systemvikt: 1935 kg

Länkar

https://www.nikonmetrology.com/en-gb/x-ray-ct/x-ray-ct-systems-electronics-inspection

Världsledande röntgen och CT-inspektion

XT V 160 är specifikt utformad för användning i produktionslinjer och laboratorier för felanalys. Med en precisions-joystick styr systemanvändaren den 5-axlade provmanipulatorn. Röntgen i realtid låter användare intuitivt navigera över komplexa kretskort och elektroniska komponenter och snabbt spåra defekter. I automatiserat inspektionsläge kan prover inspekteras med den högsta kapaciteten.

  • Marknadsledande mikrofokusteknik
  • Snabb automatiserad komponentkontroll genom anpassningsbara makron
  • Intuitiv kontroll med joystick visar röntgenbilder i realtid
  • Låga drifts- och underhållskostnader.
  • CT och X.Tract (laminografi) redo

 

 

Kontakta produktspecialist:

Johan Sternemalm
johan.sternemalm@bergmanlabora.se
Tel: 031-10 54 40

Teknisk specifikation

Typ: Öppen tub med mikrofokus
Val av mål: Reflektionmål
Max energi: 130 kV
Minsta upplösning: 1 um
Max vikt av prov: 5 kg
Geometrisk förstoring: 2,5-2400x
System förstoring: upp till 36 000x
CT /X.tract: Tillval
Primära applikationer: realtids elektronikinspektion, halvledarinspektion och felanalys
Längt kabinett: 1786 mm
Bredd kabinett: 1200 mm
Höjd kabinett: 1916 mm
Systemvikt: 1935 kg

Länkar

https://www.nikonmetrology.com/en-gb/x-ray-ct/x-ray-ct-systems-electronics-inspection

Behöver du hjälp att välja rätt produkt?

Våra produktspecialister kan hjälpa dig att välja rätt instrument för din verksamhet.

Kontakta oss

Andra köpte även

Relaterade produkter

Till toppen