Nikon N-SIM E

Superresolution på ett enkelt sätt i detta mindre av Nikon’s strukturerade illumineringsmikroskop. Upp till två gånger så hög upplösning som konventionella optiska mikroskop.

Nikon N-SIM E

Superresolution på ett enkelt sätt i detta mindre av Nikon’s strukturerade illumineringsmikroskop. Upp till två gånger så hög upplösning som konventionella optiska mikroskop.

Fördubblad upplösning

N-SIM E är det mindre av Nikon’s strukturerade illuminerings mikroskop, men likt sin storebror N-SIM S ger det upp till två gånger så hög upplösning som konventionella optiska mikroskop. Den strukturerade belysningsmikroskopitekniken är den samma. Systemet är utrustat med en kompakt laserenhet med våglängderna 488 nm, 561 nm, samt 640 nm.

 

Stort synfält ger dig mera data på kortare tid

Systemet har ett stort synfält på 66 μm2. Detta större synfält gör att färre bilder behöver tas, vilket minskar den tid man behöver för att samla in sina data. Det innebär också reducerar risken att dina fluorokromer bleks.

Kombination med andra mikroskoptekniker ger flexibilitet

N-SIM E kan kombineras med många andra tekniker som konfokal, TIRF, eller till och med superresolutionstekniken N-STORM. Eftersom alla tekniker är automatiserade och styrs genom mjukvaran NIS-Elements så är det enkelt att hitta ett intressant område lägre upplösning, och genom ett klick i mjukvaran växla till superresolution för att få en bild av området där man kan se högupplösta detaljer.

N-SIM E stöder 3D bildtagning

N-SIM E använder tekniken 3D SIM. 3D-SIM genererar det strukturerade mönstret i 3 dimensioner och ger en 2-faldig förbättring av den axiella upplösningen. Dessa 3D-SIM bilder kan kombineras med Z-stackar så att en 3-dimensionell bild av objektet kan byggas upp.

 

Kontakta produktspecialist:

Catherine Kitts
catherine.kitts@bergmanlabora.se
Tel: 031-788 18 94

Marie Andersson
marie.andersson@bergmanlabora.se
Tel: 08-625 18 07

Teknisk specifikation

XY-upplösning: 115 nm i 3D-SIM mode
Z-upplösning: 269 nm i 3D-SIM mode
Bildtagningshastighet: Upp till 1 fps (3D-SIM)
Upp till 3 kanaler
Laserenhet: LU-NV serien, 488 nm, 561 nm, 640 nm
Mikroskop: inverterat mikroskop Eclipse Ti2-E
Kamera: Hamamatsu Orca Flash 4.0
Mjukvara: NIS-Elements AR

Länkar

www.microscope.healthcare.nikon.com/en_EU/products/super-resolution-microscopes/n-sim-e

Fördubblad upplösning

N-SIM E är det mindre av Nikon’s strukturerade illuminerings mikroskop, men likt sin storebror N-SIM S ger det upp till två gånger så hög upplösning som konventionella optiska mikroskop. Den strukturerade belysningsmikroskopitekniken är den samma. Systemet är utrustat med en kompakt laserenhet med våglängderna 488 nm, 561 nm, samt 640 nm.

 

Stort synfält ger dig mera data på kortare tid

Systemet har ett stort synfält på 66 μm2. Detta större synfält gör att färre bilder behöver tas, vilket minskar den tid man behöver för att samla in sina data. Det innebär också reducerar risken att dina fluorokromer bleks.

Kombination med andra mikroskoptekniker ger flexibilitet

N-SIM E kan kombineras med många andra tekniker som konfokal, TIRF, eller till och med superresolutionstekniken N-STORM. Eftersom alla tekniker är automatiserade och styrs genom mjukvaran NIS-Elements så är det enkelt att hitta ett intressant område lägre upplösning, och genom ett klick i mjukvaran växla till superresolution för att få en bild av området där man kan se högupplösta detaljer.

N-SIM E stöder 3D bildtagning

N-SIM E använder tekniken 3D SIM. 3D-SIM genererar det strukturerade mönstret i 3 dimensioner och ger en 2-faldig förbättring av den axiella upplösningen. Dessa 3D-SIM bilder kan kombineras med Z-stackar så att en 3-dimensionell bild av objektet kan byggas upp.

 

Kontakta produktspecialist:

Catherine Kitts
catherine.kitts@bergmanlabora.se
Tel: 031-788 18 94

Marie Andersson
marie.andersson@bergmanlabora.se
Tel: 08-625 18 07

Teknisk specifikation

XY-upplösning: 115 nm i 3D-SIM mode
Z-upplösning: 269 nm i 3D-SIM mode
Bildtagningshastighet: Upp till 1 fps (3D-SIM)
Upp till 3 kanaler
Laserenhet: LU-NV serien, 488 nm, 561 nm, 640 nm
Mikroskop: inverterat mikroskop Eclipse Ti2-E
Kamera: Hamamatsu Orca Flash 4.0
Mjukvara: NIS-Elements AR

Länkar

www.microscope.healthcare.nikon.com/en_EU/products/super-resolution-microscopes/n-sim-e

Behöver du hjälp att välja rätt produkt?

Våra produktspecialister kan hjälpa dig att välja rätt instrument för din verksamhet.

Kontakta oss

Andra köpte även

Relaterade produkter

Titel

Till toppen