Nikon MCT225

Absolut precision. Dimensionell inspektion genom att använda industriell CT har många fördelar då alla interna dimensioner kan mätas utan att förstöra provet.

Nikon MCT225

Absolut precision. Dimensionell inspektion genom att använda industriell CT har många fördelar då alla interna dimensioner kan mätas utan att förstöra provet.

Absolut precision

MCT225 är ett Metrology-CT (MCT)-system med absolut precision som garanterar att all intern och extern geometri mäts effektivt. Egendesignad vätskekyld reflektionskälla med mikrofokus och ett luftkylt skåp ger långsiktig stabilitet och gör det möjligt för MCT225 att uppnå imponerande noggrannhet. Systemet erbjuder överlägsen mätnoggrannhet och detektering av små detaljer för att inspektera precisionsplastdelar, små gjutstycken, komplexa delar och sammansättningar.

  • 50 års erfarenhet av koordinatmätning (CMM) och 25 års erfarenhet av röntgenkomputerad tomografi (CT)
  • Absolut noggrannhet 9 + L / 50 μm i enlighet med VDI / VDE 2630
  • Egenutvecklad mikrofokuskälla utvecklad för metrologi CT-syften
  • Lämplig för ett brett utbud av provstorlekar och materialtäthet

 

Kontakta produktspecialist:

Johan Sternemalm
johan.sternemalm@bergmanlabora.se
Tel: 031-10 54 40

Teknisk specifikation

Typ: Öppen tub med mikrofokus
Val av mål: Reflektionsmål
Max energi: 225 kV
Minsta upplösning: 3 um
Max vikt av prov: 50 kg
Längt kabinett: 2414 mm
Bredd kabinett: 1275 mm
Höjd kabinett: 2202 mm
Systemvikt: 4200 kg

Länkar

https://www.nikonmetrology.com/en-gb/x-ray-ct/x-ray-ct-systems-225kv-and-320kv-ct-inspection-and-metrology

Absolut precision

MCT225 är ett Metrology-CT (MCT)-system med absolut precision som garanterar att all intern och extern geometri mäts effektivt. Egendesignad vätskekyld reflektionskälla med mikrofokus och ett luftkylt skåp ger långsiktig stabilitet och gör det möjligt för MCT225 att uppnå imponerande noggrannhet. Systemet erbjuder överlägsen mätnoggrannhet och detektering av små detaljer för att inspektera precisionsplastdelar, små gjutstycken, komplexa delar och sammansättningar.

  • 50 års erfarenhet av koordinatmätning (CMM) och 25 års erfarenhet av röntgenkomputerad tomografi (CT)
  • Absolut noggrannhet 9 + L / 50 μm i enlighet med VDI / VDE 2630
  • Egenutvecklad mikrofokuskälla utvecklad för metrologi CT-syften
  • Lämplig för ett brett utbud av provstorlekar och materialtäthet

 

Kontakta produktspecialist:

Johan Sternemalm
johan.sternemalm@bergmanlabora.se
Tel: 031-10 54 40

Teknisk specifikation

Typ: Öppen tub med mikrofokus
Val av mål: Reflektionsmål
Max energi: 225 kV
Minsta upplösning: 3 um
Max vikt av prov: 50 kg
Längt kabinett: 2414 mm
Bredd kabinett: 1275 mm
Höjd kabinett: 2202 mm
Systemvikt: 4200 kg

Länkar

https://www.nikonmetrology.com/en-gb/x-ray-ct/x-ray-ct-systems-225kv-and-320kv-ct-inspection-and-metrology

Behöver du hjälp att välja rätt produkt?

Våra produktspecialister kan hjälpa dig att välja rätt instrument för din verksamhet.

Kontakta oss

Andra köpte även

Relaterade produkter

Titel

Till toppen