Elektronmikroskop

Elektronmikroskop och i detta fall svepelektronmikroskop (scanning electron microscope, SEM) använder elektroner för att avbilda mycket små objekt. Vi tillhandahåller både svepelektronmikroskop, med eller utan EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy), och provberedningsutrustning från Nikon Metrology och Jeol. Systemen lämpar sig väl inom såväl akademisk som industriell forskning och kontroll.

  • JEOL NeoScope JCM-7000 SEM Elektronmikroskop

    JEOL NeoScope JCM-7000 SEM