JEOL NeoScope JCM-7000 SEM Elektronmikroskop

JEOL NeoScope JCM-7000 SEM

Name: JEOL NeoScope JCM-7000 SEM
SKU: MIK15
Availability: InStock

Jeol JCM-7000 är ett kompakt svepelektronmikroskop i bordsmodell som enkelt kan hantera avancerade analytiska tillämpningar. Instrumentet kompletterar optisk mikroskopi genom sitt utomordentliga skärpedjup och höga förstoring. Användbara egenskaper är bl.a. 3D-avbildning i realtid, lättanvända metrologiverktyg och som tillval helintegrerad EDS för grundämnesanalys.

Categories: Elektronmikroskop, Industri & Materialanalys, Lifescience & Kliniska applikationer, Mikroskopi

JEOL NeoScope JCM-7000 SEM

Jeol JCM-7000 är ett kompakt svepelektronmikroskop i bordsmodell som enkelt kan hantera avancerade analytiska tillämpningar. Instrumentet kompletterar optisk mikroskopi genom sitt utomordentliga skärpedjup och höga förstoring. Användbara egenskaper är bl.a. 3D-avbildning i realtid, lättanvända metrologiverktyg och som tillval helintegrerad EDS för grundämnesanalys.

Categories: Elektronmikroskop, Industri & Materialanalys, Lifescience & Kliniska applikationer, Mikroskopi

Kontakta produktspecialist:

Torgeir Dahlen
torgeir.dahlen@bergmanlabora.se
Tel: 08-625 18 01

Johan Sternemalm
johan.sternemalm@bergmanlabora.se
Tel: 031-10 54 40

Teknisk specifikation

Direkt förstorning: x10 to 100,00
Display förstorning: x24 to 202,168
Läge – High-Vacuum mode: Secondary electron image, Backscattered electron image (composition, topographic and shadow, 3D images)
Läge – Low Vacuum mode: Backscattered electron image (composition, topographic and shadow, 3D images)
Volt accelerering: 5 kV, 10 kV, 15 kV (3 steg)
Elektronkälla: Tungsten filament / Wehnelt Integrated gird
Hållare: X-Y motordrivet bord (X: 40 mm Y: 40 mm)
Maximal provstorlek: 80 mm i diameter x 50 mm höjd
Mätfunktioner: Mellan två punkter, vinkel, linje, bredd

Länkar

https://www.nikonmetrology.com/images/brochures/jcm7000-en.pdf

Kontakta produktspecialist:

Torgeir Dahlen
torgeir.dahlen@bergmanlabora.se
Tel: 08-625 18 01

Johan Sternemalm
johan.sternemalm@bergmanlabora.se
Tel: 031-10 54 40

Teknisk specifikation

Direkt förstorning: x10 to 100,00
Display förstorning: x24 to 202,168
Läge – High-Vacuum mode: Secondary electron image, Backscattered electron image (composition, topographic and shadow, 3D images)
Läge – Low Vacuum mode: Backscattered electron image (composition, topographic and shadow, 3D images)
Volt accelerering: 5 kV, 10 kV, 15 kV (3 steg)
Elektronkälla: Tungsten filament / Wehnelt Integrated gird
Hållare: X-Y motordrivet bord (X: 40 mm Y: 40 mm)
Maximal provstorlek: 80 mm i diameter x 50 mm höjd
Mätfunktioner: Mellan två punkter, vinkel, linje, bredd