Elektronmikroskop

Elektronmikroskop och i detta fall svepelektronmikroskop (scanning electron microscope, SEM) använder elektroner för att avbilda mycket små objekt. Vi tillhandahåller både svepelektronmikroskop, med eller utan EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy), och provberedningsutrustning från Nikon Metrology och Jeol. Systemen lämpar sig väl inom såväl akademisk som industriell forskning och kontroll.

  • JEOL NeoScope JCM-7000 SEM

Behöver du ha hjälp att välja rätt produkt?

Våra produktspecialister finns tillgängliga för att vägleda dig och hjälpa dig att hitta rätt produkter för dina specifika krav. Fyll i formuläret så tar någon av våra experter kontakt med dig!

Produktspecialister på BergmanLabora
Ja tack, kontakta mig!

Skriv ett meddelande till oss nedan så hjälper vi dig så snart vi kan.