Tillbaka

Jeol JCM-6000 PLUS Bords SEM

Jeol JCM-6000 PLUS Bords SEM

Jeol JCM-6000 PLUS är ett kompakt svepelektronmikroskop i bordsmodell som enkelt kan hantera avancerade analytiska tillämpningar. Instrumentet kompletterar optisk mikroskopi genom sitt utomordentliga skärpedjup och höga förstoring. Som standard erbjuds både låg- samt högvacuum. Instrumentet är enkelt att hantera, från provladdning till bild på endast 3 minuter!

Intuitiv mjukvara

Med mjukvaran är det enkelt att bearbeta bilden med auto-inställningar. Det finns även möjlighet att justera bilden manuellt.

Det finns möjlighet att lagra inställningarna för analysen, vilket spar tid samt ger reproducerbarhet.

Optioner

  • Vid behov kan EDS installeras, vilket ger möjlighet till kemiska analyser av provet. Både mängd samt kvalitet av provet kan då åskådliggöras. 
  • Motoriserad provhållare finns som tillbehör
  • Provbeläggning med Smart coater

 Exempel på användningsområden

  • Ytskikt
  • Brottytor
  • Beläggningar 
  • Korrosionsprodukter 
  • Material identifieringar 
  • Elementaranalys (EDS)
  • Faser i mikrostrukturer 
  • Asbestanalyser 

Spara tid och pengar genom att ha ett bords-SEM tillgängligt nära verksamheten. Alla kan utföra analysen och få ett snabbt, tillförlitligt resultat. 

Tillbaka

Kontaktperson

Johan Eriksson
Produktspecialist
"Kontakta mig! Jag hjälper dig om du har frågor eller om du vill beställa."
Johan är ansvarig för Nikon industrimikroskop och optisk mätning.